一种光性能监测方法、装置、电子设备以及存储介质
科技成果名称 |
一种光性能监测方法、装置、电子设备以及存储介质 CN202110643241.8 |
完成单位 |
聊城大学物理科学与信息工程学院
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成果简介 (200-500字) |
本发明提供了一种光性能监测方法、装置、电子设备以及存储介质,属于短距光通信中光性能监测技术领域,该方法包括:对待处理SVDD信号进行预处理,以及进行重采样;进行轨迹信息的量化处理,提取轨迹信息中的隐藏特征;对隐藏特征进行匹配。本发明仅需一次特征提取即能够对SVDD‑BPSK、SVDD‑QPSK、SVDD‑8QAM、SVDD‑16QAM、SVDD‑32QAM以及SVDD‑64QAM实现精准的联合调制格式识别、OSNR监测和RCD估计。满足短距通信对低计算复杂度、多参数联合监测,监测精度高的需求。本发明基于轨迹信息中蕴含的丰富的差异性特征,具有应用到骨干光网络和其他线性或非线性损伤监测的潜力。 |
联系方式 |
0635-8239168 薛老师 |
知识产权情况 |
发明专利 |
成果成熟度 |
○实验室阶段 ○小试阶段 ○中试阶段 √市场化阶段 |
成果转化方式 |
√技术转让 ○技术开发 √技术入股 ○股权投资 ○许可使用 ○合作开发 ○其他 |
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